陽電子の消滅と拡散特性の同時測定によるSi,Ge中の熱平衡欠陥濃度の精密決定

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陽電子の消滅と拡散特性の同時測定によるSi,Ge中の熱平衡欠陥濃度の精密決定

（科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書, 平成9-10年度）

[出版者不明], 1999.3

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ヨウデンシ ノ ショウメツ ト カクサン トクセイ ノ ドウジ ソクテイ ニヨル Si Ge チュウ ノ ネツヘイコウ ケッカン ノウド ノ セイミツ ケッテイ

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研究課題番号: 09450005

研究代表者: 谷川庄一郎

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Details

  • NCID
    BA41658658
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    engjpn
  • Place of Publication
    [出版地不明]
  • Pages/Volumes
    208p
  • Size
    30cm
  • Parent Bibliography ID
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