Messung des Bonitätsrisikos von Unternehmen : Krisendiagnose mit Künstlichen Neuronalen Netzen

著者

• Jerschensky, Andreas

書誌事項

Messung des Bonitätsrisikos von Unternehmen : Krisendiagnose mit Künstlichen Neuronalen Netzen

von Andreas Jerschensky

（Schriften des Instituts für Revisionswesen der Westfälischen Wilhelms-Universität Münster）

IDW-Verlag, c1998

注記

Includes bibliographical references (p. 275-305) and index

• NII書誌ID(NCID): BA42240525
• ISBN:
  • 3802108205
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: ger
• 本文言語コード: ger
• 出版地: Düsseldorf
• ページ数/冊数: xxxiii, 310 p.
• 大きさ: 21 cm
• 分類:
  • NDC8 : 327.934
• 親書誌ID:
  • BA07211664