X線全反射法によるSiO[x]非晶質薄膜の定量構造解析
著者
書誌事項
X線全反射法によるSiO[x]非晶質薄膜の定量構造解析
[松原英一郎], 1998.3
- タイトル別名
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平成8年度〜平成9年度科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書 : 課題番号08455290
- タイトル読み
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Xセン ゼンハンシャホウ ニ ヨル SiO[x] ヒショウシツ ハクマク ノ テイリョウ コウゾウ カイセキ
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