Proceedings : the 1980 Canadian Reliability Symposium, May 16-17, 1980, Toronto, Ontario, Canada

著者

    • Canadian S.R.E. Reliability Symposium
    • Society of Reliability Engineers. Canadian Chapter

書誌事項

Proceedings : the 1980 Canadian Reliability Symposium, May 16-17, 1980, Toronto, Ontario, Canada

Neville Lewis, chairman

（Microelectronics and reliability, v. 20, no. 1/2）

Pergamon Press, c1980

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注記

"Sponsored by the Canadian Chapter of the Society of Reliability Engineers"--T.p. verso

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA44306464
  • ISBN
    • 0080261639
  • 出版国コード
    uk
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Oxford
  • ページ数/冊数
    167 p.
  • 大きさ
    28 cm
  • 親書誌ID
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