Defect and microstructure analysis by diffraction

著者

• Snyder, R. L. (Robert L.)
• Fiala, Jaroslav
• Bunge, H.-J. (Hans Joachim)

書誌事項

Defect and microstructure analysis by diffraction

Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Bunge

（International Union of Crystallography monographs on crystallography, 10）

Oxford University Press, 1999

• : hbk

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA45673212
• ISBN:
  • 0198501897
• LCCN: 99028971
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Oxford ; Tokyo
• ページ数/冊数: xxii, 785 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : QD945
  • DC21 : 548/.83
• 件名:
  • LCSH : Crystals -- Defects -- Analysis
  • LCSH : Diffraction
  • LCSH : X-ray crystallography
• 親書誌ID:
  • BA14312752