Ultra clean processing of silicon surfaces : proceedings of the Fourth International Symposium on ultra clean processing of silicon surfaces held in Ostend, Belgium, September 21-23, 1998

著者

    • Heyns, Marc
    • Meuris, Marc
    • Mertens, Paul

書誌事項

Ultra clean processing of silicon surfaces : proceedings of the Fourth International Symposium on ultra clean processing of silicon surfaces held in Ostend, Belgium, September 21-23, 1998

editors, Marc Heyns, Marc Meuris and Paul Mertens

(Diffusion and defect data : solid state data, Pt. B : Solid State Phenomena ; v. 65 & 66)

Scitec Publications Ltd, c1999

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注記

Volumes 65-66 of Solid State Phenomena, ISSN1012-0394

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA46355405
  • ISBN
    • 3908450403
  • 出版国コード
    sz
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Uetikon-Zuerich
  • ページ数/冊数
    xiv, 301 p.
  • 大きさ
    25 cm
  • 親書誌ID
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