Metal impurities in silicon-device fabrication

書誌事項

Metal impurities in silicon-device fabrication

Klaus Graff

(Springer series in materials science, v. 24)

Springer-Verlag, c2000

2nd, revised ed.

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注記

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA46405070
  • ISBN
    • 3540642137
  • 出版国コード
    gw
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Berlin ; New York
  • ページ数/冊数
    xv, 268 p.
  • 大きさ
    24 cm
  • 親書誌ID
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