Arithmetic built-in self-test for embedded systems

著者

• Rajski, Janusz
• Tyszer, Jerzy

書誌事項

Arithmetic built-in self-test for embedded systems

Janusz Rajski, Jerzy Tyszer

Prentice Hall PTR, c1998

注記

Includes bibliographical references (p. [249]-263) and index

• NII書誌ID(NCID): BA46484135
• ISBN:
  • 0137564384
• LCCN: 97030395
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Upper Saddle River, NJ
• ページ数/冊数: xii, 268 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7895.E42
  • DC21 : 621.39/5/0287
• 件名:
  • LCSH : Embedded computer systems -- Testing
  • LCSH : Computer firmware