X-ray microscopy : proceedings of the 6th International Conference, Berkeley, CA, 2-6 Aug. 1999

著者

• International Conference on X-ray Microscopy
• Meyer-Ilse, Werner
• Warwick, Tony
• Attwood, David T.

書誌事項

X-ray microscopy : proceedings of the 6th International Conference, Berkeley, CA, 2-6 Aug. 1999

editors, Werner Meyer-Ilse, Tony Warwick, David Attwood

（AIP conference proceedings, 507）

American Institute of Physics, c2000

注記

Includes references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA47515030
• ISBN:
  • 1563969262
• LCCN: 00101916
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Melville, NY
• ページ数/冊数: xix, 748 p.
• 大きさ: 25 cm
• 件名:
  • LCSH : X-ray microscopy -- Congresses
• 親書誌ID:
  • BA00284604