Atom probe tomography : analysis at the atomic level

著者

• Miller, M. K. (Michael Kenneth)

書誌事項

Atom probe tomography : analysis at the atomic level

M. K. Miller

Kluwer Academic/Plenum Publishers, c2000

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA47941866
• ISBN:
  • 0306464152
• LCCN: 00034894
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xiv, 239 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • LCC : QH212.A76M56
  • DC21 : 502/.8/2
  • NDC9 : 429.2
• 件名:
  • LCSH : Atom-probe field ion microscopy
  • LCSH : Tomography