Ionizing radiation effects in MOS oxides

著者

• Oldham, Timothy R.

書誌事項

Ionizing radiation effects in MOS oxides

Timothy R. Oldham

（International series on advances in solid state electronics and technology / founding editor: Chih-Tang Sah）

World Scientific, c1999

注記

Includes biblioraphical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA50325270
• ISBN:
  • 9810233264
• 出版国コード: si
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Singapore
• ページ数/冊数: xiv, 171 p.
• 大きさ: 23 cm
• 親書誌ID:
  • BA24779281