Infrared imaging systems : design, analysis, modeling, and testing VI : 19-20 April 1995, Orlando, USA
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Infrared imaging systems : design, analysis, modeling, and testing VI : 19-20 April 1995, Orlando, USA
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v. 2470)
SPIE, c1995
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注記
At head of title: Proceedings of SPIE
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