In situ real-time characterization of thin films

著者

• Auciello, Orlando
• Krauss, Alan Robert

書誌事項

In situ real-time characterization of thin films

edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss

（A Wiley-Interscience publication）

J. Wiley, c2001

• : cloth : alk. paper

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA51580921
• ISBN:
  • 0471241415
• LCCN: 00025162
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xi, 263 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : QC176.83
  • DC21 : 530.4/275
• 件名:
  • LCSH : Thin films
• 親書誌ID:
  • BA00493885