Scanning probe microscopies : from surface structure to nano-scale engineering
著者
書誌事項
Scanning probe microscopies : from surface structure to nano-scale engineering
(Materials science foundations, 14)
Trans Tech Publications, c2001
大学図書館所蔵 全10件
  青森
  岩手
  宮城
  秋田
  山形
  福島
  茨城
  栃木
  群馬
  埼玉
  千葉
  東京
  神奈川
  新潟
  富山
  石川
  福井
  山梨
  長野
  岐阜
  静岡
  愛知
  三重
  滋賀
  京都
  大阪
  兵庫
  奈良
  和歌山
  鳥取
  島根
  岡山
  広島
  山口
  徳島
  香川
  愛媛
  高知
  福岡
  佐賀
  長崎
  熊本
  大分
  宮崎
  鹿児島
  沖縄
  韓国
  中国
  タイ
  イギリス
  ドイツ
  スイス
  フランス
  ベルギー
  オランダ
  スウェーデン
  ノルウェー
  アメリカ
内容説明・目次
内容説明
In the 1990s, there was a considerable development in molecular chemistry through super- and supra-supermolecular stages. These featured large molecular arrays, from interlocked organic macromolecules, nanotubes, dendrimers, polyphenylenes, and many others - especially self-assembling molecules (SAM) - in repeating units in the 5 - 100 nm range. Simultaneously, materials science, and especially electronics, is still going down from microns to nanometers through utilisation of ever-shorter wavelengths in beam lithographies on substrates, especially silicon ones. In addition, unconventional fabrication methods for patterning nanostructures (again for electronics and optoelectronics) are also emerging, at the same time overlapping with other fields where mesoscopic order is responsible for function, such as bio-ordering (shells, plate ordering in animal shells and wings, DNA-derived assemblies, and so on).
目次
Preface
Table of Contents
1 SCANNING TUNNELLING MICROSCOPY 1.1 Introduction and History
1.2 The Physical Basis of STM
1.3 Instrumentation, Past and Present
1.4 STM Image Interpretation
1.5 STM Spectroscopy
2 ATOMIC FORCE AND RELATED FORCE MICROSCOPIES. 2.1 History
2.2 Principles
2.3 Instrumentation and an AFM Sitting
2.4 Other Microscopy Techniques Comparison
2.5 Applications of SPM
3 REFERENCES
「Nielsen BookData」 より