Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics : symposium held April 23-27, 2000, San Francisco, California, U.S.A.

著者

    • Oehrlein, G.S

書誌事項

Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics : symposium held April 23-27, 2000, San Francisco, California, U.S.A.

editors, G.S Oehrlein ... [et al.]

(Materials Research Society symposium proceedings, v. 612)

Materials Research Society, 2001

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注記

Includes bibliographical references and indexes

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA52824872
  • ISBN
    • 155899520X
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Warrendale, PA
  • ページ数/冊数
    1 v.
  • 大きさ
    24 cm
  • 親書誌ID
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