繰り返し変形されたNi、Fe中の転位および原子空孔の陽電子消滅寿命測定法による研究

著者

• 蔵元, 英一 クラモト, エイイチ

書誌事項

繰り返し変形されたNi、Fe中の転位および原子空孔の陽電子消滅寿命測定法による研究

研究代表者蔵元英一

（科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書, 平成10年度〜平成12年度）

[九州大学], 2001.3

タイトル別名

平成10年度〜平成12年度科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書(課題番号10450235)

タイトル読み

クリカエシ ヘンケイサレタ Ni Feチュウノ テンイ オヨビ ゲンシ クウコウ ノ ヨウデンシ ショウメツ ジュミョウ ソクテイホウ ニ ヨル ケンキュウ

• NII書誌ID(NCID): BA53093819
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpneng
• 出版地: [福岡]
• ページ数/冊数: 1冊
• 大きさ: 30cm
• 親書誌ID:
  • BA30193701