Characterisation of radiation damage by transmission electron microscopy

著者

• Jenkins, M. L.
• Kirk, M. A.

書誌事項

Characterisation of radiation damage by transmission electron microscopy

M.L. Jenkins, M.A. Kirk

（Microscopy in materials science series）

Institute of Physics Pub., c2001

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA53960344
• ISBN:
  • 075030748X
• LCCN: 00061392
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Bristol ; Philadelphia
• ページ数/冊数: x, 224 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TA418.6
  • DC21 : 620.1/1228
• 件名:
  • LCSH : Materials -- Effect of radiation on
  • LCSH : Materials -- Microscopy
  • LCSH : Transmission electron microscopy
• 親書誌ID:
  • BA25209085