Technologies for synthetic environments : hardware-in-the-loop testing VI : 16-18 April 2001, Orlando, USA

書誌事項

Technologies for synthetic environments : hardware-in-the-loop testing VI : 16-18 April 2001, Orlando, USA

Robert Lee Murrer, Jr., chair/editor ; sponsored ... by SPIE--the International Society for Optical Engineering

(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v. 4366)

SPIE, c2001

タイトル別名

Hardware-in-the-loop testing 6

Hardware-in-the-loop testing six

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注記

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  • Proceedings

    SPIE -- the International Society for Optical Engineering

    SPIE -- the International Society for Optical Engineering

詳細情報
  • NII書誌ID(NCID)
    BA55904887
  • ISBN
    • 0819440612
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Bellingham, Wash.
  • ページ数/冊数
    x, 530 p.
  • 大きさ
    28 cm
  • 親書誌ID
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