X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析

著者

• 桜井, 健次 サクライ ケンジ
• 平野, 馨一 ヒラノ, ケイイチ
• 高エネルギー加速器研究機構 コウ エネルギー カソクキ ケンキュウ キコウ

書誌事項

X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析

edited by K. Sakurai and K. Hirano

（KEK proceedings, 2001-25 . PF研究会||PF ケンキュウカイ ; 平成13年度）

High Energy Accelerator Research Organization (KEK), 2002.1

タイトル別名

X-ray and neutron reflectivity studies on thin films and multilayers

タイトル読み

Xセン チュウセイシ ハンシャリツホウ ニヨル ハクマク タソウマク ノ コウゾウ カイセキ

注記

表紙: "December 21-22, 2001"

• NII書誌ID(NCID): BA56635102
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpneng
• 出版地: Tsukuba
• ページ数/冊数: 74p
• 大きさ: 30cm
• 親書誌ID:
  • BA13667297