X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析

Author(s)

• 桜井, 健次 サクライ ケンジ
• 平野, 馨一 ヒラノ, ケイイチ
• 高エネルギー加速器研究機構 コウ エネルギー カソクキ ケンキュウ キコウ

Bibliographic Information

X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析

edited by K. Sakurai and K. Hirano

（KEK proceedings, 2001-25 . PF研究会||PF ケンキュウカイ ; 平成13年度）

High Energy Accelerator Research Organization (KEK), 2002.1

Other Title

X-ray and neutron reflectivity studies on thin films and multilayers

Title Transcription

Xセン チュウセイシ ハンシャリツホウ ニヨル ハクマク タソウマク ノ コウゾウ カイセキ

Note

表紙: "December 21-22, 2001"

• NCID: BA56635102
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpneng
• Place of Publication: Tsukuba
• Pages/Volumes: 74p
• Size: 30cm
• Parent Bibliography ID:
  • BA13667297