Si front-end processing -- physics and technology of dopant-defect interactions III : symposium held April 17-19, 2001, San Francisco, California, U.S.A.

著者

    • Jones, Erin C.
    • Jones, Kevin S.
    • Giles, Martin D.
    • Stolk, Peter
    • Matsuo, Jiro

書誌事項

Si front-end processing -- physics and technology of dopant-defect interactions III : symposium held April 17-19, 2001, San Francisco, California, U.S.A.

editors, Erin C. Jones ... [et al.]

(Materials Research Society symposium proceedings, v. 669)

Materials Research Society, c2001

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注記

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA56818510
  • ISBN
    • 1558996052
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Warrendale, PA
  • ページ数/冊数
    1 v.
  • 大きさ
    24 cm
  • 親書誌ID
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