Developments in x-ray tomography III : 2-3 August 2001, San Diego, USA

著者

• Bonse, Ulrich

書誌事項

Developments in x-ray tomography III : 2-3 August 2001, San Diego, USA

Ulrich Bonse, chair/editor ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering

（Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v. 4503）

SPIE, c2002

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA58796962
• ISBN:
  • 0819442178
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Bellingham, Washington
• ページ数/冊数: xii, 374 p.
• 大きさ: 28 cm
• 親書誌ID:
  • BA0022700X