Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A.

書誌事項

Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A.

editors, S. Ashok ... [et al.]

(Materials Research Society symposium proceedings, v. 719)

Materials Research Society, c2002

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注記

Includes bibliographical references and indexes

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA58959499
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Warrendale, Pa
  • ページ数/冊数
    xv, 493 p.
  • 大きさ
    24 cm
  • 親書誌ID
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