Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

著者

• Fultz, B.
• Howe, James M.

書誌事項

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

Brent Fultz, James Howe

（Physics and astronomy online library）

Springer, c2002

2nd ed

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA59086328
• ISBN:
  • 3540437649
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Berlin ; Tokyo
• ページ数/冊数: xxi, 748 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TA417.23
  • DC21 : 620.1/1299
• 件名:
  • LCSH : Materials -- Microscopy
  • LCSH : Transmission electron microscopy
  • LCSH : X-ray diffractometer
• 親書誌ID:
  • BA48464922