イオン温度・電子温度・ビーム成分の空間分布構造同時計測用半導体検出器開発と実用化

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イオン温度・電子温度・ビーム成分の空間分布構造同時計測用半導体検出器開発と実用化

長照二研究代表者

[長照二], 2002.3

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科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書 : 平成12-13年度

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イオン オンド・デンシ オンド・ビーム セイブン ノ クウカン ブンプ コウゾウ ドウジ ケイソクヨウ ハンドウタイ ケンシュツキ カイハツ ト ジツヨウカ

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研究課題番号: 12558048

Details

  • NCID
    BA59350539
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    engjpn
  • Place of Publication
    [つくば]
  • Pages/Volumes
    1冊
  • Size
    30cm
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