Charged particle detection, diagnostics, and imaging : 30 July - 2 August 2001 San Diego, USA

著者

    • Delage, Olivier
    • Munro, Eric
    • Rouse, John A.

書誌事項

Charged particle detection, diagnostics, and imaging : 30 July - 2 August 2001 San Diego, USA

Olivier Delage, Eric Munro, John A. Rouse chairs/editors ; Sponsored and published by SPIE-The International Society for Optical Engineering

(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v. 4510)

SPIE, c2001

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注記

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  • Proceedings

    SPIE -- the International Society for Optical Engineering

    SPIE -- the International Society for Optical Engineering

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA59875248
  • ISBN
    • 0819442240
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Bellingham, Wash.
  • ページ数/冊数
    ix, 236 p.
  • 大きさ
    28 cm
  • 親書誌ID
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