Polarization analysis, measurement, and remote sensing IV : 29-31 July 2001, San Diego, USA

書誌事項

Polarization analysis, measurement, and remote sensing IV : 29-31 July 2001, San Diego, USA

Dennis H. Goldstein, David B. Chenault, Walter G. Egan, Michael J. Duggin chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--The International Society for Optical Engineering

(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v. 4481)

SPIE, c2002

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  • Proceedings

    SPIE -- the International Society for Optical Engineering

    SPIE -- the International Society for Optical Engineering

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA60635853
  • ISBN
    • 0819441953
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Bellingham, Wash.
  • ページ数/冊数
    ix, 324 p.
  • 大きさ
    28 cm
  • 分類
  • 件名
  • 親書誌ID
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