Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

著者

• Goldstein, Joseph

書誌事項

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Joseph I. Goldstein ... [et al.]

Kluwer Academic/Plenum Publishers, c2003

3rd ed

注記

Includes bibliographies, and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA61565866
• ISBN:
  • 0306472929
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xix, 689 p.
• 大きさ: 26 cm.
• 付属資料: 1 computer laser optical disc
• 件名:
  • LCSH : Scanning electron microscopy
  • LCSH : X-ray microanalysis