Intellectual property damages : guidelines and analysis

著者

• Glick, Mark
• Reymann, Lara A.
• Hoffman, Richard

書誌事項

Intellectual property damages : guidelines and analysis

Mark A. Glick, Lara A. Reymann, Richard Hoffman

John Wiley & Sons, c2003-

• : cloth
• 2004 suppl

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA61642617
• ISBN:
  • 0471237191
  • 0471464597
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: v.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • DC21 : 346.73048
• 件名:
  • LCSH : Intellectual property -- United States
  • LCSH : Damages -- United States