Reliability prediction of electronic equipment

著者

• United States. Dept. of Defense

書誌事項

Reliability prediction of electronic equipment

（Military handbook, MIL-HDBK-217D）

Dept. of Defense, 1982

注記

"Superseding MIL-HDBK-217C, 9 April 1979"

Includes bibliographies

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA61864095
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Washington, D.C.
• ページ数/冊数: 1 v. (various pagings)
• 大きさ: 27 cm
• 親書誌ID:
  • BA60079705