2003 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings : 41st annual, Dallas, Texas, March 30-Apri 4, 2003

著者

書誌事項

2003 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings : 41st annual, Dallas, Texas, March 30-Apri 4, 2003

sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2002 , c2003

  • : soft.

タイトル別名

03CH37400

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注記

Includes bibliographical references

"IEEE Catalog No. 03CH37400" -- T. p.

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA6271753X
  • ISBN
    • 0780376498
  • LCCN
    82640313
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway, N.J.
  • ページ数/冊数
    x, 645 p.
  • 大きさ
    28 cm
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