Proceedings : Forty-first annual meeting : Electron Microscopy Society of America, Phoenix, Arizona, 8-12 August 1983

著者

• Electron Microscopy Society of America
• Bailey, G. W.
• Annual Meeting Electron Microscopy Society of America

書誌事項

Proceedings : Forty-first annual meeting : Electron Microscopy Society of America, Phoenix, Arizona, 8-12 August 1983

Editor G.W. Bailey

San Francisco Press, 1983

タイトル別名

Electron Microscopy

注記

***記述は遡及データによる

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA62837870
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: San Francisco
• ページ数/冊数: xxvi, 820 p.
• 大きさ: 26 cm