Proceedings : Forty-second annual meeting : Electron Microscopy Society of America, Detroit, Michigan, 13-17 August 1984 : jointly with Microscopical Society of Canada Eleventh Annual Meeting

著者

    • Electron Microscopy Society of America
    • Bailey, G. W.
    • Annual Meeting Electron Microscopy Society of America

書誌事項

Proceedings : Forty-second annual meeting : Electron Microscopy Society of America, Detroit, Michigan, 13-17 August 1984 : jointly with Microscopical Society of Canada Eleventh Annual Meeting

Editor G.W. Bailey

San Francisco Press, 1984

タイトル別名

Electron Microscopy

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA62838181
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    San Francisco
  • ページ数/冊数
    xxiii, 751 p.
  • 大きさ
    26 cm
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