Targets and backgrounds IX: Characterization and representation : 21-22 April 2003, Oriando, Florida, USA
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Targets and backgrounds IX: Characterization and representation : 21-22 April 2003, Oriando, Florida, USA
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v.5075)
SPIE, c2003
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注記
Includes bibliographical references and index