個別半導体素子の試験方法 : MIL-STD-750B

著者

• 日本電子機械工業会防衛庁半導体分科会翻訳グループ ニホン デンシ キカイ コウギョウカイ ボウエイチョウ ハンドウタイ ブンカカイ ホンヤク グループ
• 電子機械工業会 デンシ キカイ コウギョウカイ

書誌事項

個別半導体素子の試験方法 : MIL-STD-750B

(社)日本電子機械工業会防衛庁半導体分科会翻訳グループ訳

日本規格協会, 1970.7

タイトル別名

Test methods for semiconductor devices : Military Standard MIL-STD-750B, 27 February 1970

タイトル読み

コベツ ハンドウタイ ソシ ノ シケン ホウホウ : mil std 750b

注記

奥付の訳者: 電子機械工業会

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA64350764
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 原本言語コード: eng
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: 265p
• 大きさ: 26cm
• 分類:
  • NDC8 : 549.8
• 件名:
  • BSH : 半導体