書誌事項

Proceedings, 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 3-5 November 2003, Boston, Massachusetts

[edited by C. Bolchini ... [et al.] ] ; sponsored by the Counci the IEEE Computer Society Technical Committee on Fault-Tolerant Computing, IEEE Computer Society Test Technology Technicall

IEEE Computer Society, c2003

タイトル別名

DFT2003

PR02042

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注記

Includes bibliographical references and index

"IEEE Computer Society Press Order Number PR02042"--on T.p. verso

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA64469166
  • ISBN
    • 0769520421
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Los Alamitos, Calif.
  • ページ数/冊数
    xii, 607 p.
  • 大きさ
    23 cm
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