2003 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility : symposium record : Boston, August 18-22, 2003

著者

書誌事項

2003 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility : symposium record : Boston, August 18-22, 2003

IEEE EMC Society

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2003

  • v. 1
  • v. 2

タイトル別名

03CH37446

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注記

"IEEE catalog number: 03CH37446"

内容説明・目次

内容説明

These proceedings include papers on: ESD; measurement instrumentation; EMI standards; EMC education and management; PCB design for EMI control; wireless technologies; measurement techniques; EMI control; and system EMC analysis.

「Nielsen BookData」 より

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA64630330
  • ISBN
    • 0780378350
    • 0780378350
  • LCCN
    83645449
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway
  • ページ数/冊数
    2 v.
  • 大きさ
    28 cm
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