X-ray Microscopy 2002 : 7th International Conference on x-ray microscopy, ESRF, Grenoble, France, July 28 - August 2, 2002

著者

• International Symposium on X-ray Microscopy
• Susini, J.
• Joyeux, D.
• Polack, F.

書誌事項

X-ray Microscopy 2002 : 7th International Conference on x-ray microscopy, ESRF, Grenoble, France, July 28 - August 2, 2002

edited by J. Susini, D. Joyeux, F. Polack

（Journal de physique, IV, v.104）

EDP Sciences, 2003

タイトル別名

XRM2002

注記

Includes references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA65433073
• ISBN:
  • 286883664X
• 出版国コード: fr
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Les Ulis Cedex
• ページ数/冊数: xxxiii, 667 p.
• 大きさ: 25 cm
• 親書誌ID:
  • BA21041280