Analytical electron microscopy for materials science

著者

• 進藤, 大輔 シンドウ, ダイスケ
• 及川, 哲夫 オイカワ, テツオ

書誌事項

Analytical electron microscopy for materials science

D. Shindo, T. Oikawa

Springer, c2002

• pbk.

タイトル別名

材料評価のための分析電子顕微鏡法 <BA41742572>

統一タイトル

Zairyō hyōka no tameno bunseki denshi kenbikyōhō

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA66146215
• ISBN:
  • 4431703365
• LCCN: 2003542835
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 原本言語コード: jpn
• 出版地: Tokyo
• ページ数/冊数: ix, 152 p.
• 大きさ: 27 cm
• 分類:
  • DC21 : 620.11299
  • LCC : TA417.23
• 件名:
  • LCSH : Materials -- Microscopy
  • LCSH : Electron microscopy