陽電子消滅によるGaN系半導体の点欠陥の研究

Author(s)

• 上殿, 明良 ウエドノ, アキラ

Bibliographic Information

陽電子消滅によるGaN系半導体の点欠陥の研究

上殿明良研究代表者

（科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書, 平成13年度-平成14年度）

[上殿明良], 2003.5

Title Transcription

ヨウデンシ ショウメツ ニヨル GaNケイ ハンドウタイ ノ テン ケッカン ノ ケンキュウ

Note

研究課題番号: 13650332

Details

• NCID: BA66772336
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpneng
• Place of Publication: [つくば]
• Pages/Volumes: 98p
• Size: 30cm
• Parent Bibliography ID:
  • BA30195401