陽電子消滅によるGaN系半導体の点欠陥の研究

著者

• 上殿, 明良 ウエドノ, アキラ

書誌事項

陽電子消滅によるGaN系半導体の点欠陥の研究

上殿明良研究代表者

（科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書, 平成13年度-平成14年度）

[上殿明良], 2003.5

タイトル読み

ヨウデンシ ショウメツ ニヨル GaNケイ ハンドウタイ ノ テン ケッカン ノ ケンキュウ

注記

研究課題番号: 13650332

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA66772336
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpneng
• 出版地: [つくば]
• ページ数/冊数: 98p
• 大きさ: 30cm
• 親書誌ID:
  • BA30195401