Meß- und Prüftechnik

著者

• Zerbst, M.

書誌事項

Meß- und Prüftechnik

Manfred Zerbst

（Halbleiter-Elektronik, Bd. 20）

Springer-Verlag, 1986

• : New York
• : Berlin

注記

Includes bibliographies and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA67246918
• ISBN:
  • 0387158782
  • 3540158782
• LCCN: 86189298
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: ger
• 本文言語コード: ger
• 出版地: Berlin ; New York
• ページ数/冊数: 385 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7871.85
  • DC19 : 621.3815/2
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors -- Testing
  • LCSH : Integrated circuits -- Testing
  • LCSH : Optoelectronic devices -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA07518077