Fe中のCu析出過程に及ぼす低温照射及び変形の影響の陽電子消滅測定法による研究

著者

• 蔵元, 英一 クラモト, エイイチ

書誌事項

Fe中のCu析出過程に及ぼす低温照射及び変形の影響の陽電子消滅測定法による研究

研究代表者:蔵元英一

（科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書, 平成14年度-平成15年度）

[九州大学], 2004.3

タイトル別名

平成14年度-平成15年度科学研究費補助金(基盤研究(C)(2))研究成果報告書(課題番号14550655)

タイトル読み

Feチュウ ノ Cu セキシュツ カテイ ニ オヨボス テイオン ショウシャ オヨビ ヘンケイ ノ エイキョウ ノ ヨウデンシ ショウメツ ソクテイホウ ニ ヨル ケンキュウ

• NII書誌ID(NCID): BA68740851
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpneng
• 出版地: [福岡]
• ページ数/冊数: 1冊
• 大きさ: 30cm
• 親書誌ID:
  • BA30195401