Testing for EMC compliance : approaches and techniques

著者

• Montrose, Mark I.
• Nakauchi, Edward M.

書誌事項

Testing for EMC compliance : approaches and techniques

Mark I. Montrose, Edward M. Nakauchi

IEEE , John Wiley, c2004

注記

Includes bibliographical references and index

"Wiley-interscience"

"IEEE Electromagnetic Compatibility Society, sponcer"

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA68913370
• ISBN:
  • 047143308X
• LCCN: 2003063488
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Piscataway, N.J.,Hoboken, N.J.
• ページ数/冊数: xviii, 460 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TK7867.2
  • DC22 : 621.382/24
• 件名:
  • LCSH : Electromagnetic compatibility
  • LCSH : Electromagnetic interference