Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics - 2004 : symposium held April 13-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A.

著者

    • Carter, R. J.

書誌事項

Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics - 2004 : symposium held April 13-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A.

editors, R.J. Carter ... [et al.]

(Materials Research Society symposium proceedings, v. 812)

Materials Research Society, c2004

大学図書館所蔵 件 / 3

この図書・雑誌をさがす

注記

Includes bibliographical references and indexes

関連文献: 1件中  1-1を表示

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA69047763
  • ISBN
    • 1558997628
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Warrendale
  • ページ数/冊数
    xiii, 402 p.
  • 大きさ
    24 cm
  • 親書誌ID
ページトップへ