Production testing of RF and system-on-a-chip devices for wireless communications

著者

• Schaub, Keith B.
• Kelly, Joe

書誌事項

Production testing of RF and system-on-a-chip devices for wireless communications

Keith B. Schaub, Joe Kelly

（The Artech House microwave library）

Artech House, c2004

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA69833710
• ISBN:
  • 1580536921
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boston
• ページ数/冊数: xviii, 249 p.
• 大きさ: 26 cm
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors -- Testing
  • LCSH : Wireless communication systems -- Equipment and supplies -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA00537481