最新固体表面/微小領域の解析・評価技術

著者

• 氏平, 祐輔 ウジヒラ, ユウスケ

書誌事項

最新固体表面/微小領域の解析・評価技術

氏平祐輔編

（Basic selection）

サイペック, [2004]

タイトル読み

サイシン コタイ ヒョウメン ビショウ リョウイキ ノ カイセキ ヒョウカ ギジュツ

注記

リアライズ社=REALIZE(1991.3発行)の複製

出版者の記載が「リアライズ理工センター」のものもあり

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA70630765
• ISBN:
  • 4898080596
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: 410p
• 大きさ: 30cm
• 親書誌ID:
  • BA70630721