Value analysis tear-down : a new process for product development and innovation

著者

• Sato, Yoshihiko
• Kaufman, J. Jerry

書誌事項

Value analysis tear-down : a new process for product development and innovation

Yoshihiko Sato and J. Jerry Kaufman

Industrial Press, 2005

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA70647735
• ISBN:
  • 0831132035
• LCCN: 2004019919
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: x, 206 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : HD47.3
  • DC22 : 658.5/75
• 件名:
  • LCSH : Value analysis (Cost control)
  • LCSH : Industrial productivity
  • LCSH : New products
  • LCSH : Engineering economy