Électronique appliquée : examens d'électronicien (C.A.P. B.E.P. B.P. B.T.)

著者

• Bibal, M.
• Heiny, P.
• Chevalier, A.
• Cluzel, R.

書誌事項

Électronique appliquée : examens d'électronicien (C.A.P. B.E.P. B.P. B.T.)

par M. Bibal, P. Heiny ; avec la collaboration de A. Chevalier et R. Cluzel

（Techniques et normalisation）

Delagrave, 1968

注記

avec compléments Semi-conducteurs -- On cover

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA71340818
• 出版国コード: fr
• タイトル言語コード: fre
• 本文言語コード: fre
• 出版地: Paris
• ページ数/冊数: 255, 61, 47 p.
• 大きさ: 22 cm
• 分類:
  • LCC : TK7825
• 件名:
  • LCSH : Electronics -- Handbooks, manuals, etc
• 親書誌ID:
  • BA11634082