走査電子顕微鏡試験方法通則
著者
書誌事項
走査電子顕微鏡試験方法通則
（JIS, K ; 0132-1997）
日本規格協会, 1997.10
- タイトル別名
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General rules for scanning electron microscopy
- タイトル読み
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ソウサ デンシ ケンビキョウ シケン ホウホウ ツウソク
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注記
主務大臣:通商産業大臣
制定:平成9.9.20
原案作成協力者:社団法人日本分析機器工業会
審議部会:日本工業標準調査会基本部会